PXIE-4144 4 通道 高速 PXI 源 测量 单元

PXIE-4144 4 通道 高速 PXI 源 测量 单元

PXIe-4144 （部件号： 782432-01） 具有无线测试系统（RFIC），其中包含用户描述控制增强器、收发器、中频接收器、RF前端、调制器/解调器和其他RFIC小工具所需的关键仪器。该框架包含一个 6.6 GHz 的矢量信号分析仪 （VSA） 和一个 6.6 GHz 的矢量信号发生器 （VSG），以捕获或产生基本的射频原理（ZigBee、WLAN、WiMAX 等）;用于基本直流参数估计（开路/短路、泄漏测试）的源测量单元 （SMU）;高速计算机化I/O，通过基本通信协议（SPI、I2C、JTAG）在FFIC中捕获或创建数字基带或控制通信模式;以及包括数字化仪、时钟源、控制仪表和其他射频硬件在内的选择，以满足用户的需求。

无线测试系统 （RFIC） 具有对 RFIC 小工具进行正常估计所需的仪器，例如误差矢量幅度 （EVM）、框架泄漏、递归平衡等，并可制定定制的调制方案（AM、FM、PM、ASK、FSK、MSK、GMSK、PSK、QPSK、PAM、QAM）。结合NI LabVIEW编程，这种安排可以帮助用户快速修改其框架，以执行描绘其远程IC所需的估算。

NI PXIe-4144 具有 多种 添加 运动 的 策略;单频和多频技术是zui 著 名的。这些技术通过生成直接功率波形，使用户能够测量频谱的低频部分的阻抗，zui 高可达几 uhz。为了将这些技术用于高频，需要出色的ADC。

PXIE-4144 4 通道 高速 PXI 源 测量 单元

The PXIe-4144 (Part number: 782432-01) features a Wireless Test System (RFIC), which contains the key instruments required for the user description control intensifier, transceiver, IF receiver, RF front end, modulator/demodulator, and other RFIC gadgets. The framework includes a 6.6 GHz vector signal analyzer (VSA) and a 6.6 GHz vector signal generator (VSG) to capture or generate basic RF principles (ZigBee, WLAN, WiMAX, etc.); Source measurement unit (SMU) for basic DC parameter estimation (open/short circuit, leak testing); High-speed computerized I/O to capture or create digital baseband or control communication modes in FFIC via basic communication protocols (SPI, I2C, JTAG); And options including digitizers, clock sources, control meters and other RF hardware to meet user needs.

The Wireless Test System (RFIC) has the instruments required for normal estimation of RFIC gadgets, such as error vector amplitude (EVM), frame leakage, recursive balance, etc., and can develop custom modulation schemes (AM, FM, PM, ASK, FSK, MSK, GMSK, PSK, QPSK, PAM, QAM). Combined with NI LabVIEW programming, this arrangement helps users quickly modify their framework to perform the estimates needed to delineate their remote ics.

NI PXIe-4144 has a variety of strategies for adding motion; Single-frequency and multi-frequency technologies are the best known. These technologies enable users to measure impedance in the low-frequency portion of the spectrum, up to several uhz, by generating a direct power waveform. In order to use these technologies for high frequencies, excellent ADCs are needed.